真空衰減法密封儀用于檢測各種材料和設備在不同壓力下的密封性能，利用了氣體分子在真空中的漫反射特性。當氣體分子從高壓區(qū)域進入低壓區(qū)域時，它們會發(fā)生多次隨機碰撞，從而減少其動能，導致氣體分子的數(shù)量逐漸減少。通過測量在一段時間內(nèi)氣體分子數(shù)量的變化，可以計算出材料或設備的泄漏速率，從而評估其密封性能。廣泛應用于電子、醫(yī)療等領(lǐng)域。

　　應用領(lǐng)域如下：

　　1.醫(yī)療器械：例如制備藥品、醫(yī)用設備等。

　　2.光學玻璃：用于制造高質(zhì)量的光學元件，例如望遠鏡鏡片、相機鏡頭和顯微鏡鏡片等。

　　3.電子工業(yè)：例如制造半導體器件、液晶顯示器、真空管和電視圖像管等。

　　4.科學：例如制造火箭發(fā)動機、氣動部件和太空站設備等。

　　5.材料科學：例如制造高溫合金、陶瓷材料和超硬合金等。

　　6.化學工業(yè)：例如制造高純度化學試劑和高聚物材料等。

　　優(yōu)勢包括這些：

　　1.可重復性好：該方法具有良好的可重復性，可以反復使用進行測試，提高測試效率。

　　2.敏感性高：可以檢測到非常小的氣體泄漏，比其他方法更加敏感。

　　3.非侵入式：該方法是非侵入式的測試方法，不會對被測試物品造成損傷或影響其性能。